دانشگاه صنعتی مالک اشتر
چکیده: (6860 مشاهده)
قابلیت شناسایی ماهیتی پوششهای سطح در تصاویر ابرطیفی بهنحو قابلتوجهی فراهم شدهاست. دراین تصاویر طیف بازتابی سطح در محدوده مرئی و مادونقرمزنزدیک طیف الکترومغناطیس در باندهای بسیار باریک و پیوسته ثبت میگردد. لیکن بدلایلی ازجمله وجود پیکسلهای مخلوط و پایین بودن قدرت تفکیکمکانی این تصاویر، شناسایی دقیق موقعیتی پوششهای سطح در آنها دشوار است. روشهای طبقهبندینرم امکان برآورد سهم کلاسها رادر داخل پیکسلهای مخلوط فراهم میآورد. اما بااستفاده ازاین روشها تنها اطلاعات ماهیتی درسطح زیرپیکسل تولید شده و آرایش مکانی کلاسها نامعلوم باقی میماند. جهت حل این مشکل، روشهایی بانام SRM ارائه شده که مقادیر عضویت حاصل از طبقهبندینرم رادر زیرپیکسلها جانمایی نموده و نقشه پوششی با توانتفکیک بالاتری تولید مینمایند. دراین مقاله، ازروش معاوضهپیکسلی بعنوان یکیاز الگوریتمهای SRM استفاده وبا تکرار آنبرای هرکلاس، حالت چندکلاسه آن ایجاد شد. نکته اساسی کهدر طبقهبندی زیرپیکسلی مطرح میشود، ارزیابی این نوع طبقهبندیکنندهها است، که بدلیل اثرگذاری پارامترهای متنوع در طبقهبندی زیرپیکسلی، پیچیده است. از اینرو بعنوان فعالیتی اصلی و نوآورانه اثرگذاری دو پارامتر سطحهمسایگی و ضریببزرگنمایی درروش معاوضهپیکسلی تعمیمدادهشده، شبیهسازی و تحلیل شدهاست. برای اینمنظور چارچوبی برای ارزیابی عملکرد طبقهبندی زیرپیکسلی بهدو صورت مستقل از خطای طبقهبندینرم و وابسته بهآن، پیشنهاد گردید.
نوع مطالعه:
پژوهشي |
موضوع مقاله:
مقالات پردازش تصویر دریافت: 1392/2/7 | پذیرش: 1394/12/15 | انتشار: 1395/4/2 | انتشار الکترونیک: 1395/4/2