دوره 19، شماره 1 - ( 3-1401 )                   جلد 19 شماره 1 صفحات 136-125 | برگشت به فهرست نسخه ها


XML English Abstract Print


دانشگاه حکیم سبزواری
چکیده:   (1064 مشاهده)
تعیین شباهت/ فاصله داده‌ها در بسیاری از الگوریتم‌های یادگیری ماشین، شناسایی الگو و داده‌کاوی کاربرد دارد. در بسیاری از کاربردها، معیارهای عمومی شباهت/فاصله کارایی بالایی ندارد و به‌طورمعمول با استفاده از داده‌ها می‌توان معیار مناسب‌تری را یاد گرفت. داده‌های آموزشی برای این منظور به‌طورمعمول به‌صورت زوج‌های مشابه و نامشابه و یا محدودیت‌های سه‌گانه هستند. در کاربردهای واقعی، این داده‌های آموزشی از طریق اینترنت و به‌طورمعمول با روش‌هایی نظیر Crowdsourcing جمع‌آوری می‌شود که می‌تواند حاوی نوفه و اطلاعات اشتباه باشد. کارایی روش‌های یادگیری متریک در صورت وجود اطلاعات آموزشی نوفه‌ای و اشتباه به‌شدت افت می‌کند و حتی ممکن است این روش‌ها از معیارهای عمومی فاصله نظیر اقلیدسی نیز بدتر عمل کنند. بنابراین نیاز به مقاوم‌سازی روش‌های یادگیری متریک در برابر نوفه برچسب وجود دارد. در این پژوهش، یک تابع احتمالاتی جدید برای تعیین احتمال نوفه‌ای‌‌بودن برچسب داده‌ها با استفاده از محدودیت‌های سه‌گانه آموزشی ارائه‌شده است که باعث می‌شود، الگوریتم یادگیری متریک بتواند داده‌های پرت و نوفه‌ای را شناسایی کند و تأثیر آن‌ها را فرایند یادگیری کاهش دهد. همچنین نشان داده‌ شده است که چگونه از اطلاعات به‌دست‌آمده می‌توان برای افزایش کارایی الگوریتم مبتنی بر متریک (مانند kNN) بهره برد و عملکرد آن را به‌طور قابل‌ملاحظه‌ای افزایش داد. نتایج آزمایش‌ها بر روی مجموعه‌ای از داده­‌های ساختگی و واقعی، تأیید می‌کند که روش پیشنهادی به‌طور قابل‌ملاحظه‌ای کارایی روش‌های یادگیری متریک را در محیط‌هایی با نوفه برچسب بهبود می‌بخشد و بر روش‌های همتا در مرزهای دانش در سطوح مختلف نوفه برچسب برتری دارد.
شماره‌ی مقاله: 10
متن کامل [PDF 1421 kb]   (459 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: مقالات پردازش داده‌های رقمی
دریافت: 1398/9/14 | پذیرش: 1399/5/28 | انتشار: 1401/4/1 | انتشار الکترونیک: 1401/4/1

فهرست منابع
1. [1] D. Zabihzadeh, R. Monsefi, and H. S. Yazdi, "Sparse Bayesian similarity learning based on posterior distribution of data," Engineering Applications of Artificial Intelligence, vol. 67, pp. 173-186, 2018. [DOI:10.1016/j.engappai.2017.09.023]
2. [2] L. Lin, G. Wang, W. Zuo, X. Feng, and L. Zhang, "Cross-domain visual matching via generalized similarity measure and feature learning," IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, vol. 39, no. 6, pp. 1089-1102, 2017. [DOI:10.1109/TPAMI.2016.2567386] [PMID]
3. [3] J. Lu, X. Zhou, Y.-P. Tan, Y. Shang, and J. Zhou, "Neighborhood repulsed metric learning for kinship verification," IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, vol. 36, no. 2, pp. 331-345, 2014. [DOI:10.1109/TPAMI.2013.134] [PMID]
4. [4] S. Bak and P. Carr, "One-Shot Metric Learning for Person Re-identification," in Proceedings of the IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, 2017, pp. 2990-2999. [DOI:10.1109/CVPR.2017.171]
5. [5] N. Jiang, W. Liu, and Y. Wu, "Order determination and sparsity-regularized metric learning adaptive visual tracking," in Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 2012 IEEE Conference on, 2012: IEEE, pp. 1956-1963. [DOI:10.1109/CVPR.2012.6247897]
6. [6] M. Guillaumin, T. Mensink, J. Verbeek, and C. Schmid, "Tagprop: Discriminative metric learning in nearest neighbor models for image auto-annotation," in Computer Vision, 2009 IEEE 12th International Conference on, 2009: IEEE, pp. 309-316. [DOI:10.1109/ICCV.2009.5459266]
7. [7] G. Chechik, V. Sharma, U. Shalit, and S. Bengio, "Large Scale Online Learning of Image Similarity Through Ranking," J. Mach. Learn. Res., vol. 11, pp. 1109-1135, 2010. [DOI:10.1007/978-3-642-02172-5_2]
8. [8] X. Hao, S. C. H. Hoi, J. Rong, and Z. Peilin, "Online Multiple Kernel Similarity Learning for Visual Search," Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Transactions on, vol. 36, no. 3, pp. 536-549, 2014, doi: 10.1109/TPAMI-.2013.149. [DOI:10.1109/TPAMI.2013.149] [PMID]
9. [9] P. Wu, S. C. H. Hoi, P. Zhao, C. Miao, and Z. Y. Liu, "Online Multi-Modal Distance Metric Learning with Application to Image Retrieval," IEEE Transactions on Knowledge and Data Engineering, vol. 28, no. 2, pp. 454-467, 2016, doi: 10.1109/TKDE.2015.2477296. [DOI:10.1109/TKDE.2015.2477296]
10. [10] J. Li, C. Xu, W. Yang, C. Sun, and D. Tao, "Discriminative Multi-View Interactive Image Re-Ranking," IEEE Transactions on Image Processing, 2017. [DOI:10.1109/TIP.2017.2651379] [PMID]
11. [11] A. Bellet, A. Habrard, and M. Sebban, "A Survey on Metric Learning for Feature Vectors and Structured Data," Technical report, 2014.
12. [12] B. Frénay and M. Verleysen, "Classification in the presence of label noise: a survey," IEEE transactions on neural networks and learning systems, vol. 25, no. 5, pp. 845-869, 2013. [DOI:10.1109/TNNLS.2013.2292894] [PMID]
13. [13] T. Yang, R. Jin, and A. K. Jain, "Learning from noisy side information by generalized maximum entropy model," in Proceedings of the 27th International Conference on Machine Learning (ICML-10), 2010: Citeseer, pp. 1199-1206.
14. [14] K. Huang, R. Jin, Z. Xu, and C.-L. Liu, "Robust metric learning by smooth optimiza-tion," arXiv preprint arXiv:1203.3461, 2012.
15. [15] Y. Nesterov, "Smooth minimization of non-smooth functions," Mathematical programm-ing, vol. 103, no. 1, pp. 127-152, 2005. [DOI:10.1007/s10107-004-0552-5]
16. [16] D. Wang and X. Tan, "Robust Distance Metric Learning in the Presence of Label Noise," in AAAI, 2014, pp. 1321-1327. [DOI:10.1609/aaai.v28i1.8903]
17. [17] H. Wang, F. Nie, and H. Huang, "Robust Distance Metric Learning via Simultaneous L1-Norm Minimization and Maximization," in Proceedings of the 31st International Conference on Machine Learning (ICML-14), T. Jebara and E. P. Xing, Eds., 2014, [Formatter not found: ResolvePDF]: JMLR Workshop and Conference Proceedings, pp. 1836-1844. [Online]. Available: http://jml-r.org/proceedings/papers/v32/wangj14.pdf. [Online]. Available: http://jmlr.org/proceed-ings/papers/v32/wangj14.pdf
18. [18] S. Xiang, F. Nie, and C. Zhang, "Learning a Mahalanobis distance metric for data clustering and classification," Pattern Recogn., vol. 41, no. 12, pp. 3600-3612, 2008, doi: 10.1016/j.patcog.2008.05.018. [DOI:10.1016/j.patcog.2008.05.018]
19. [19] D. Wang and X. Tan, "Robust Distance Metric Learning via Bayesian Inference," IEEE Transactions on Image Processing, vol. 27, no. 3, pp. 1542-1553, 2018. [DOI:10.1109/TIP.2017.2782366] [PMID]
20. [20] D. Zabihzadeh, R. Monsefi, and H. S. Yazdi, "Sparse Bayesian approach for metric learning in latent space," Knowledge-Based Systems, vol. 178, pp. 11-24, 2019. [DOI:10.1016/j.knosys.2019.04.009]
21. [21] K. Q. Weinberger and L. K. Saul, "Distance Metric Learning for Large Margin Nearest Neighbor Classification," J. Mach. Learn. Res., vol. 10, pp. 207-244, 2009.
22. [22] S. Al-Obaidi, D. Zabihzadeh, A. S. Rasheed, and R. Monsefi, "Robust Metric Learning based on the Rescaled Hinge Loss," arXiv preprint arXiv:1904.11711, 2019. [DOI:10.1007/s13042-020-01137-z]
23. [23] F. Wang, W. Zuo, L. Zhang, D. Meng, and D. Zhang, "A kernel classification framework for metric learning," IEEE transactions on neural networks and learning systems, vol. 26, no. 9, pp. 1950-1962, 2015. [DOI:10.1109/TNNLS.2014.2361142] [PMID]
24. [24] C.-C. Chang and C.-J. Lin, "LIBSVM: A library for support vector machines," ACM transactions on intelligent systems and technology (TIST), vol. 2, no. 3, p. 27, 2011. [DOI:10.1145/1961189.1961199]
25. [25] L. v. d. Maaten and G. Hinton, "Visualizing data using t-SNE," Journal of machine learning research, vol. 9, no. Nov, pp. 2579-2605, 2008.

بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.